Sustratos cerámicos metalizados

key1 PAÍSES
key3 ±50㎛

1.Espesor: 0,1㎜~1,5㎜ / 4mil~60mil
2.Precisión de corte: ±50㎛

Características

Los submontajes se han desarrollado combinando tecnologías de metalización y materiales cerámicos que MARUWA ha cultivado durante muchos años. Los materiales se pueden personalizar con diversas tecnologías de patrones, como la metalización envolvente. Este producto se utiliza en sustratos de circuitos para almacenamiento óptico, comunicación óptica, aplicaciones de RF y otros usos diversos.

Especificación general de metalización

Artículo		Especificacion estandar
Material de sustrato	Material	Alúmina (Al₂oh₃)	99,5%, 96%, etc.
		Nitruro de aluminio (AlN)	-
		Sustrato dieléctrico	e38、e93etc.
	Espesor	0,1㎜~1,5㎜ / 4mil~60mil
	Tamaño de trabajo	50,8㎜□(2 pulgadas□)、2 pulgadas x 4 pulgadas□、3 pulgadas
Especificación de la película (director)	Composición de la película / Espesor de la película	Grabado en seco	Ti/Pt/Au=0,06/0,2/0,3㎛~2,0㎛aprox.
			Ti/Pd/Au=0,06/0,2/2,0㎛~10,0㎛aprox.
		Grabado húmedo	Ti/Pd/Au=0,06/0,2/2,0㎛~10,0㎛aprox.
Especificación de película (cuerpo de resistencia)	Resistencia del asiento	25Ω/□、50Ω/□(±20%)	Especificación especial (±5%)
		TCR	-50±50 ppm/°C
	Composición de la película	Nitruro de tantalio (Ta2N)
Especificación de película (soldadura)	Composición de la película / Espesor de la película	Au/Sn	1,5㎛~10㎛
Especificación de procesamiento (circuito de película delgada)	Línea y espacio mínimos	Grabado en seco	L/S≧10㎛
		Grabado húmedo	L/T: 20㎛/20㎛±10㎛
Especificación de procesamiento (mecanizado)	Precisión de corte	±50㎛

Artículo	articulo de INSPECCION	Máquinas de inspección de medidas
Seguro de calidad	Tamaño	Microscopio de medición
	Espesor de la película	Medidor de fluorescencia de rayos X, superficie rugosa
	Resistencia	Multímetro digital
	Exterioridad	Microscopio
	Resistencia del alambre	probadores plt